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觸 控 按 鍵 產 品 應 用 推 陳 出 新 ， 終端產品朝向智能化趨勢發展，市 場邁入高速成長階段，盛群半導體 (HOLTEK)全新推出資源更豐富、效 能更高的5V寬電壓Arm Cortex - M0+ Touch微控制器HT32F542xx系列，型 號為HT32F54231 、HT32F54241 、 HT32F54243 、HT32F54253 ，時脈最高 可達60MHz ，提供最多28個觸控鍵，應 用上適用於智慧家電、數位電子鎖、工 業控制等市場。
此系列MCU除了更穩定及可靠的電 容式觸控引擎核心硬體外，同時具備 USART/UART/SPI/I2C等標準通訊介 面，讓設計者易於連接各類感測器、無 線模組等來擴展產品功能，進而開發出 各類智慧型家用電器及物聯網終端設 備。
觸控按鍵感應依原理大致可區分為： 電阻式、電感式、電容式、紅外線式、 表面聲波式等，目前市場主要以電容式 為主。終端應用產品要實現觸控功能並 不難，但要做到穩定及符合EMC規範， 則是技術上的挑戰。
由於各家IC公司觸控產品的設計技術 及工程服務水平不一，開發者在觸控按 鍵應用的開發初期，可能沒有建立正確 的測試程序，導致一些潛在效能問題未 能被檢驗出來，銷售出去的成品在終端 客戶使用一段時間後，往往會出現不少 售後客訴，尤其是AC供電或是各種應用 環境下遭遇的問題諸如電源高頻干擾、 潮溼、水氣等，都極易造成觸控按鍵的 誤動作或失效現象，最終導致品牌廠商 不小的困擾及商譽損失。
影響觸控穩定性的原因及完善的測試 方法：
常見干擾源
常見干擾： 電壓波動、溫度/濕度變 化、電磁干擾(RF天線、對講機等) 、電 源干擾(電機啟動、日光燈啟動)等，都 有可能引起觸控不穩定。
完善的測試
以下測試方法基本可以營造出一般電 子設備的使用環境，只要通過這些項目 的測試，設計出來的觸控產品都是相對 穩定可靠的。
1. 功能測試： 操作觸控按鍵的過程， 同時將工作電壓從高調到低，再從低調 到高反覆做測試。
2. 潮濕環境測試： 利用水蒸氣讓待測 的觸控面板上結滿露水，或者把觸控面 板靠近空調出風口，濕度越高電容值越 高，相反地，溼度越低則電容值越低。
3. 溫度測試： 用烘箱或熱風加熱，放 入冰箱或冰櫃製冷測試，設備充足的情 況下還可以用專業的溫度箱測試。
4. 電源干擾測試： 測試EFT脈衝群 抗擾度，標準IEC61000 - 4 - 4 、GB/ T 17626.4 ，測試射頻場感應的傳導騷 擾抗擾度：標準IEC61000 -4 -6 、GB/T 17626.6 。
5. 空間輻射測試： 測試射頻電磁場輻 射抗擾度試驗，標準IEC 61000 -4 -3 、 GB/T 17626.3 ，測試場強在3- 10V/m之 間。
6. ESD測試： 標準IEC61000 -4 -2 、 GB/T 17626.6 。
盛群半導體(HOLTEK)自2006年開始研 發設計觸控按鍵IC ，基於提供客戶全面 且專業的技術服務，於2008年成立「優 方科技」，雙方共同致力於觸控感應解 決方案的研究與發展，迄今積累十多年 經驗，每年協助客戶量產數量多達2億 台。 2022年全新推出32-bit HT32F542xx 系列的觸控MCU ，期望未來在觸控應 用市場中，提供客戶從快速導入開發設 計、終至成品量產出貨的專業技術服務 及完整解決方案。